(1) 试验电源容量可降低到试品所需容量的1/Q倍，即品质因素Q越高，所需试
验电源容量越小。
(2)当试品击穿时，谐振回路失去谐振条件，高压电路和低压电路的电流会快速减小，对试品破坏小。
(3)由于谐振电抗器L和试品Cx形成高压谐振回路是一个良好的滤波电路，故试品Cx上的电压波形为良好的正弦波。
(1) 试验电源容量可降低到试品所需容量的1/Q倍，即品质因素Q越高，所需试 验电源容量越小。 (2)当试品击穿时，谐振回路失去谐振条件，高压电路和低压电路的电流会快速减小，对试品破坏小。 (3)由于谐振电抗器L和试品Cx形成高压谐振回路是一个良好的滤波电路，故试品Cx上的电压波形为良好的正弦波。
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