XU-100光谱测厚仪采用下照式C型腔体设计，搭配微聚焦X射线发生器和高集成垂直光路系统，以及高敏变焦测距装置，对各种大小异形件都可快速、精准、无损测量。检测各种金属镀层，检出限可达0.005μm,较近测距光斑扩散度10%以内，凹槽深度测量范围可达030mm,是一款测量镀层厚度性价比高、适用性强的机型。
① 下照式设计：可以快速方便地定位对焦样品。
② 高精密微型移动滑轨：快速精准定位样品。
③ 微焦X射线装置：较近测距光斑扩散度10%以内，可进行各类电镀层膜厚检测。
④ 高效率正比接收器：即使测试微小样品，几秒钟也能达到稳定性。
⑤ 变焦装置算法：可对各种异形凹槽进行检测，凹槽深度测量范围可达0-30mm。
⑥ 先进的EFP算法：多层多元素，包括有同种元素在不同涂镀层的检测，都可以快、准、稳的做出数据分析。
XU-100光谱测厚仪选配附件有哪些?
① 电镀液测试附件：整套含两个测量杯和一卷测试膜。可用于多品牌XRAY测厚仪上使用，高纯元素本底，提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯，严格控制了容量和溢出物的处理，用来测试药水溶液中金属离子的浓度，使用方便简捷。
② 配件箱：其中包括仪器相关配线、密码狗、十二元素片、选配标准片、网圈等。
③ 测厚仪标准片：校正片又称标准箔、膜厚片，通用于所有x射线镀层测厚仪，本公司标准片规格齐全，可送检第三方出具CNAS证书，为仪器精准测试保驾**。
以上就是X荧光光谱测厚仪厂家一六仪器对于X荧光光谱测厚仪的相关介绍，如果你想要了解更多内容，欢迎联系我们。一六仪器专注于光谱分析仪器研发、生产、销售和服务，在微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测上，都具备更佳的表现。