二硒化钼二维原子晶体的等电子掺杂

时间：2017-03-23

作者：上海巨纳科技有限公司

词条
词条说明
三维共聚焦显微镜快速无损表征石墨烯材料
近年来，在**刮起了一股石墨烯旋风，越来越多的企业和科研单位开始致力于石墨烯材料的制备和测试，检测石墨烯的形貌结构显得尤为重要我们发现,三维共聚焦显微镜既用来观察样品表面亚μm程度的三维形态和形貌，又可以测量多种微小的尺寸，诸如体积、面积、晶粒、膜厚、深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等等。而且测试方便快捷，不损坏样品，实际利用中比扫描电镜、原子力显微镜更加适用。**泰州石墨烯研究检测火炬平台的多名
巨纳集团参加全国纳米技术标准化技术**2016年会
2016年11月17日，全国纳米技术标准化技术**（以下简称“纳米标委会”）2016年度会议在浙江嘉兴召开。纳米标委会主任委员朱星教授，纳米标委会副主任委员沈电洪研究员，纳米标委会秘书长王琛研究员，中国科学院浙江应用技术研究院院长陈秋荣研究员，出席了此次会议，纳米标委会委员或委员代表及秘书处成员四十余人参加了此次会议，会议由主任委员朱星教授主持。巨纳集团董事长丁荣，副总、泰州石墨烯研究检测平台
泰州巨纳参加石墨烯标准化推进工作组成立大会
为贯彻落实党*、**对发展石墨烯产业的部署要求，强化标准化工作对石墨烯产业发展的支撑和**，国家标准委于1月17日在北京召开了石墨烯标准化推进工作组成立大会，推进组全体成员、国标委综合业务管理部、国际合作部、工业标准一部、工业标准二部、江苏、浙江、山东、广西、重庆等省、直辖市质量技术监督局、地方标准化管理部主要负责人及有关单位代表约50余人参加了此次会议。会议由国家标准委副主任、党组成员殷明
二硒化钼二维原子晶体的等电子掺杂
掺杂和缺陷在很大程度上决定了传统的半导体材料的器件性能。与传统半导体类似，为了实现二维过渡金属硫族化合物(TMDCs)材料在电子、光电以及光子器件等领域的应用，需要对这一材料进行可控掺杂和缺陷调制，从而调控二维材料的能带结构，载流子的类型和浓度，进而实现材料的多功能化与器件集成。与传统半导体材料相比，二维材料只有一层或几层原子厚度，从而只有一维线缺陷和零维的点缺陷，并且这些缺陷严重的影响二维材料的