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EDX8000L是EDX3600L型的升级产品,利用中国历史博物馆和上海硅酸盐研究所两大古陶瓷研究检测的*部门提供的标准陶瓷片样品为仪器标定基准标样,一次性同时分析古陶瓷标本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化学成份含量,再对照中国古陶瓷数据库便可以达到断代断源的功效
X射线定义:l X射线是一种波长较短的电磁辐射,通常是指能量范围在0.1-100KeV的光子.X射线与物质的相互作用主要有荧光.吸收.散射三种。X射线的荧光物质中的组成元素产生特征辐射,通过测量和分析样品产生的X射线荧光,即可获得样品中的元素组成,得到物质成分的定性和定量信息.l X射线光谱仪通常可分为两大类:波长色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)X射线荧光光谱仪.l X射线荧光分析技术的
涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。磁吸力测量原理*磁铁(测头)
如何使用ROHS测试仪XRF定量分析必须注意的是:x射线荧光光谱分析值提供管制物质以元素形式存在与否的信息。必须特别注意例如Cr以及Br,所得的结果是总Cr和总的Br,而不反映其存在的形式。因此如果存在Cr,Br的时候,六价铬,PBB,PBDE必须使用确认测试程序进行确认。另一方面,如果没有Cr,Br的存在,那么就不可能存在Cr(VI),PBB,PBDE。分析方法必须小心的执行校正,考虑:光谱干扰
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