交换机102MCE-ST-40/102MCE-ST-80 酌言尝之

时间：2021-03-03作者：重庆渝赣铭瑞自动化科技有限公司浏览：94

X-RAY膜厚测试仪(测厚仪)美国博曼X-RAY膜厚测试仪是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,保证样品的完整性,减少不必要的浪费,并且先进的FP数字计算法,对测量数据进行精确的计算,确保测量数据的准确性.

X-RAY膜厚测试仪(测厚仪)采用的测量法特点有以下几种：

1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是较小不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。

X-RAY膜厚测试仪(测厚仪)的售后：我们有专业的售后工程师，定期去到访与维护，并且我有1年的保修期，及国家三包服务，NIST认证，**服务及支持。

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