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失效分析 赵工 半导体工程师 2022-10-08 10:00 发表于北京刚刚,芯榜消息:根据美国联邦公报,拜登**宣布了对中国获得美国半导体技术的新限制,并增加了旨在阻止中国推动发展自己的芯片产业和提升该国军事能力的措施。 据悉,美国商务部在其认为“未经证实”(UVL)的公司名单中添加了更多名称,包括31家中国实体。这意味着美国供应商在向这些实体销售技术时
芯片开封技术laser decap 半导体业的铜制程芯片越来越成为发展主流,这给失效分析中器件开封带来越来越高的挑战。传统的酸开封已经没有办法完成铜制程器件的开封,良率一般低于30%。此时仪准科技推出的激光开封机,给分析产业带来了新的技术。 产品特点: 1、对铜制程器件有很好的开封效果,良率**90%。 2、对环境及人体污染伤害交小,符合环保理念。 3、开封效率是普通酸开封机台的3~5倍。 4、电
科研测试补贴90% 附申请链接 半导体元器件失效分析可靠性测试 今天 在北京地区注册,具有独立法人资格,在职正式职工不多于100人,营业收入1000万元以下,注册资金不**2000万元,具有健全的财务机构,管理规范,无不良诚信记录; 每年度符合补贴要求的业务合同金额 10万元及以下的部分按照较高不**过90%的比例核定; **过10万元至50万元的部分按照较高不**过60%的比例核定; **过50万元至1
微量元素含量测试方法 近年来,元素含量测试仪器发展十分*,常见的测试仪器有原子反射光谱法(AES)、原子吸收光谱法(AAS)、X射线荧光光谱法(XRF)、电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-AES)和质谱(ICP-MS)等,由于各个仪器的技术方法存在局限性,如何对待测元素“量体裁衣”尤为重要。下面主要从元素含量测试仪器原理、适用范围两个方面作简要介绍。 1.原子发射光谱(AES) 原子发射光谱
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